全谱直读光谱分析仪

CCD全谱直读光谱分析仪SZ-WL15A

全谱直读光谱分析仪

CCD图像传感器可直接将光学信号转换为模拟电流信号，电流信号经过放大和模数转换，实现图像的获取、存储、传输、处理和复现。

特点：

1、体积小重量轻。

2、功耗小，工作电压低，抗冲击与震动，性能稳定，寿命长。

3、灵敏高，噪声低，动态范围大。

4、响应速快，有自扫描功能，图像畸变小，无残像。

5、应用超大规模集成电路工艺技术生产，像素集成高，尺寸精确，商品化生产成本低。

应用领域有军事领域、摄像领域、生产自动化、光学信息处理等领域。

SZ-WL15A桌面上的金属分析仪体积小巧，且具有超高的性价比。

我们的光谱仪旨在完成快速而可靠的样品检测。新一代leetes先进的光谱分析技术，30年光谱仪研发制造经验、技术创新和售后服务，为每一台光谱仪用户提供可靠的材料分析方案。

WL15A提供快速、稳定和精确的分析以实现完美样品检测要求。它是一台功能强大且可靠的光谱仪，光学系统采用CCD检测器，在部分领域可以媲美经典光电倍增管式的光谱仪。

分析的材料类全面的分析程序可供选择，适用于所有金属及其合金，

包括：铸铁、铁、钢铝、铜、镁、镍、铅、锡、钴、钛

光学系统：

全谱平场光学系统，波长可选范围：130-1100nm

检测器：

(紫外区)采用高性能滨松（HAMAMATSU）背照式CCD检测器

开放式激发台，适用于分析不同几何形状的大样品，采用双气路氩气冲洗电极模式大大节约氩气，热交换设计，无需水冷，易于清理维护；

火花激发系统：

激发误差是直读光谱分析中主要误差，对火花激发系统中光源的稳定性要求异常严格。WL15A采用全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术。

具有以下特点：

激发电路中无电阻部件，不发热，提高热稳定性低压火花放电，增加系统可靠性减少维护保养，仅需清洗激发电极

1.分析准确高，时间快

2.体积小、重量轻

3.高集成化、高可靠性

4.数据分析稳定、快速

5.全谱检测，通道不受限

6.操作简单

7.分析模式

核心原理图：

CCD的优势：

windows系统下全中文操作界面，有多种语言模式一键激发

即可获取数据内置自我诊断系统

自动处理结果，10-30S完成样品分析

预装金属牌号，能快速鉴定。可自由选择分析模式、

配置分析曲线，也可根据应用需求优化参数。

连接激发光源

狭缝

滤镜

准直镜

光栅

聚焦镜

带滤光片的检测器

背照式CCD检测器

应用领域

冶金、铸造、机械加工、炉前化验、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空航、核电、兵器

检测范围

铁基、铜基、铝基、镍基、钴基、镁基、钛基、锌基、铅基、锡基、银基等。

CCD全谱直读光谱分析仪SZ-WL15A

CCD原理及发展应用

CCD是指电荷耦合器件，是一种用电荷量表示信号大小，用耦合方式传输信号的探测元件，具有自扫描、感受波谱范围宽、畸变小、体积小、重量轻、系统噪声低、功耗小、寿命长、可靠性高等系列优点，并可做成集成非常高的组合件。

电荷耦合器件(CCD)是20世纪70年代初发展起来的一种新半导体器件。

CCD是于1969年由贝尔实验室（BellLabs）的维拉波义耳(WillardS.Boyle）和乔治史密斯（GeorgeE.Smith）所发明的。

当时贝尔实验室正在发展影像电话和半导体气泡式内存。将这两种新技术结合起来后，波义耳和史密斯得出一种装置，他们命名为电荷气泡元件（Charge"Bubble"Devices）。

这种装置的特性就是它能沿着一片半导体的表面传递电荷，便尝试用来做为记忆装置，当时只能从暂存器用注入电荷的方式输入记忆。但随即发现光电效应能使此种元件表面产生电荷，而组成数位影像。

到了70年代，贝尔实验室的研究员已经能用简单的线性装置捕捉影像，CCD就此诞生。有几家公司接续此一发明，着手进行进一步的研究，包括仙童半导体（FairchildSemiconductor）、无线电公司（RCA）和德州仪器（TexasInstruments）。

其中快捷半导体的产品领先上市，于1974年发表500单元的线性装置和100x100像素的平面装置。

CCD图像传感器可直接将光学信号转换为模拟电流信号，电流信号经过放大和模数转换，实现图像的获取、存储、传输、处理和复现。

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