差热分析仪原理氧化还原断裂分解反应

DTA差热分析仪原理氧化还原断裂分解反应DZ3320A

差热分析仪原理氧化还原断裂分解反应

产品介绍：

差热分析是在程序控制温下，测量物质与参比物之间的温差与温关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温(△T)随温或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

仪器特点：

1.仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速更快，温控制更精确。

2.采用USB双向通讯，操作更便捷。

3.采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，界面更友好。

4.采用镍铬合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。

技术参数：

1.温范围：室温~1150℃

2.量程范围：0～2000V

3.DTA精：0.01V

4.升温速率：1～80℃/min

5.温分辨率：0.1℃

6.温准确：0.1℃

7.温重复性：0.1℃

8.温控制：升温：程序控制可根据需要进行参数的调整

恒温：程序控制恒温时间任意设定

9.炉体结构：炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精高，易于操作

10.气氛控制：内部程序自动切换

11.数据接口：标准USB接口配套数据线和操作软件

12.显示方式：24bit色7寸LCD触摸屏显示

13.参数标准：配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温进行校正

14.基线调整：用户可通过基线的斜率和截距来调整基线

15.工作电源：AC220V50Hz

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