高精晶振测试仪

JC-3195A高精晶振测试仪

详细资料

高精晶振测试仪

1．概述

JC-3195A高精晶振测试仪

是用于测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL（机内带可调负载电容12.5pF～50pF，且等效电阻和谐振频率直接读数，激励功率可调）。测量插座适合晶体引线宽3.75~14.50mm。

2．技术参数

2．1频率范围：1~60MHz

频段划分：11~2.2MHz

22.2~5MHz

35~10MHz

410~20MHz

520~40MHz

640~60MHz

2．2测量网络的终端电阻：源端24；负载端27。

2．3起振电阻范围：

1~10MHz起振电阻范围为0~500；

10~60MHz起振电阻范围为0~100。

2．4阻值读数范围：

0~1999.9误差(10+频率MHz为单位时/10)%。

2．5激励功率范围：1.5~1200W误差25%

2．6负载电容范围：12.5~50pF

2．7频率计测量准确：5PPM。

2．8频率计数字显示：8位。

2．92．9时基稳定性：短期：1107/秒长期：2105/月。

[可选配高稳定的恒温晶振（1~5）108／日]。

2．10使用环境：a．环境温：20℃2℃；

b．相对湿：（45~75）%；

c．大气压强：86~106kPa；

d．避免外电磁场干扰，避免阳光直射。

2．11安全组别：属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。

2．12使用电源：220V2%，50Hz1%。

2．13连续工作时间：8小时。

2．14消耗功率：小于25W。

2．15外形尺寸：380mm（宽）X150mm（高）X290mm（深）。

2．16重量：约7kg

制造商：深圳市仪器

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