1、测金仪基本内容
测金仪X-3680A
博智伟业X-3680A便携式贵金属检测仪
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我公司专业生产的测金仪，贵金属检测仪拥有这非常好的口碑，我们的客户主要是金店，典当行，质检机构，全国大部分质检机构全部使用的我公司生产的测金仪，欢迎广大客户来电咨询，我们会给您放心的产品和优质的服务
X-3680A贵金属检测系统
测金仪X-3680A是一种体现X射线荧光分析技术新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，高分辨率数字一体化X-123半导体探测系统，多种准直器与滤波片，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处.
其高分辨率数字一体化X-123半导体探测系统，完全保证了符合中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会2008年12月31日发布2009年7月1日实施GB/T18043--2008新标准对X射线荧光光谱分析仪：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少为200eV标准要求。并且其分辨率大大优于“至少为200eV标准要求”。
仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调，检测精度从1PPM级到万分级。
X-3680A贵金属检测系统整体技术参数与指标
分析元素范围：从铝（13号元素）到铀（92号元素）
元素分析含量范围：1ppm到100%
元素同时分析能力：35种元素
测量样品型态：固体，粉末，液体
探测器：美国AMPTEK原装进口高分辨率数字一体化X-123半导体探测系统，探测面积6mm2分辨率小于139eV，峰背比高，检测精度更高。
X光管：自动水制冷系统，对各种元素激发效率更高
高压电源：大功率50W，50kV,1mA
显示：配备高清液晶显示屏。
滤波片：6种滤波片与4种准直器自由自动切换。
密度检测系统：密度检测仪及检测软件一套，可以对样品的密度进行准确分析鉴定，从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析（本系统具有专利性）
镀层检测：仪器可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测，并得出准确结果（使用者可以根据需求进行二次开发）
样品成像定位系统：内置自动感光高像素摄像头及先进的定位软件，方便样品的局部定位测量
测量精度：以黄金样品为例
高含量样品（含量在97%以上）误差<±0.1%
中高含量样品（含量在75%以上）误差<±0.1%-0.3%
低含量样品（含量在75%以下）误差<±0.3%
可准确检测黄金99.9%与99.99%的样品。
加压：自动加载高压电流，自动预热并校正峰位，省去繁琐的操作。
测量时间：60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果
测量次数：任意可调，且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量
峰位：峰位稳定性高，8小时漂移小于0.5道。
定量分析方法：基本参数法，理论Alpha系数法，经验系数法，多元回归法等。其中基本参数法是在国内同行业率先采取此类综合计算方法。
定性分析方法：元素自动寻峰，Kl谱线标记法，峰谱比对法等
操作软件：开放的可供客户自行开发和升级的工作软件，使一机多能。
操作模式：一键式操作全电脑控制与人工选择测试方法两种测试模式，满足不同测试单位和测试人员的要求。一键式操作全电脑控制可自动判断被测贵金属的种类，省去人为判断的过程，提高了测量时间及有可能出现人为误判，进而大大提高了测量效率。
银铜双峰位校准：银，铜双峰位同时校准，使仪器校准更加精准，随时修正工作曲线，使测量结果达到高精度（同行业中采取此校准方法）
三重防辐射系统：配备光电快门装置，更换样品时X光管自动切断电压电流；样品仓打开，X光管快门自动闭锁；仪器多层屏蔽舱盖，有效防止X射线外溢（同行业中采取三重防辐射系统）
温度控制系统：内部风冷水冷双循环冷却，大限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命，且保证仪器长时间工作稳定，测量精度准确
硬件结构：仪器双箱体结构，有效屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性
超大样品仓：方便大型样品的检测
测试报告：测试报告根据客户要求独立设计
其他应用：增加ROHS、卤素等有毒有害物质的检测程序及贵金属有毒有害元素的检测程序。
29.测量黄金铂金当中的铱元素，可测量1%左右的铱含量，领先国内竞争对手
X-3680A贵金属检测系统硬件技术规格
1.外型尺寸：520mm×465mm×320mm
2.可测试样品大小：关仓测量：330mm×345mm×80mm，开仓测量：无限大
3.仪器重量：50公斤
4.工作环境温度：10―30℃
5.工作环境相对湿度：≤80%
6.元素分析范围：铝（Al）――铀（U）
7.含量分析范围：1PPM――100%
8.测量时间:60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果。
9.激发源：自动水制冷系统，低功率X射线管（W靶）
10.高压电源：大50KV，1mA
11.探测器：美国Amptek原装进口高分辨率全数字一体化X-123探测器系统
12.整机分辨率：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率为150±10eV（完全符合并优于中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会2008年12月31日发布2009年7月1日实施GB/T18043--2008新标准对X射线荧光光谱分析仪：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少为200eV标准要求）。
13.进口数字化DP5分析器
14.工作电源：交流220V50Hz
X-3680A贵金属检测系统进口探测器性能指标
生产厂商：美国Amptek公司
探测器类型：电制冷X-123
探测面积：6mm2
硅活化区厚度：500um
探测器分辨率：对于55Fe，@5.9keV对于12us的形成时间，半高宽为小于139eV
探测器窗口：铍窗，12.5um厚
使用寿命：大于5年
X-3680A贵金属检测系统高压电源规格
电压和电流从零至满量程连续可调：大50KV，1mA
电压调整率：负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程0.01%
线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程0.01%
电流调整率：负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%
线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程0.01%
稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05%
温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01%
X-3680A贵金属检测系统强势功能
1．附带包金检测系统
仪器自带的包金检测系统包括包金检测仪及测试分析软件，可以对各种包裹贵金属进行辨别和分析。
2.样品室摄像头定位
样品室内置高像素自调焦摄像头。可清晰观测样品摆放位置，方便微小物品的摆放和测试。
3.电制冷与内部水循环冷却及风冷相结合，可长时间工作
能量色散X荧光光谱仪对工作温度的要求很高。测试结果会随温度的变化发生偏移。X-3680A采用探测器电制冷与高压电源，X光管内部水循环冷却系统相结合，辅助科学的风道设计，把热量快速排出。测量次数任意可调，且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量。保证仪器在长时间的工作下的稳定性，测试结果的准确性。抗干扰能力强且方便硬件升级。
4.峰位自动校准
仪器采用合金校准片对仪器进行校准。比单一采用纯银校准片，不但可以校准仪器的峰位，还可以观察仪器线性的变化情况，对测试结果的准确性更有保证。
5．双箱体结构，抗干扰能力强
X-3680A采用双箱体结构设计，探测器单元与控制电路分开放置，大程度避免了电磁，脉冲等的相互干扰。大程度保证了仪器工作的准确稳定。
6．仪器工作方法可任意开发、完善
仪器自带相关工作曲线，测试方法建立软件。客户可根据自身需要，以自己的样品为标准，修改仪器参数，更改工作方法，修订工作曲线。一旦国家颁布了新的国家标准，或者出现了新的首饰加工工艺（例如首饰厂商被允许添加一些新的金属在首饰里面），仪器可以马上更改测试方法，满足测试要求。而这些工作客户可以自行操作修改，完善。在客户接受大概10小时左右的培训后，重新制定标准，修正仪器只需要大概30分钟时间。操作全部通过软件完成，人性化程度高，真正实现全免费软件自行升级。
7.测试报表根据客户要求独立设计
仪器测试结果的打印报表可依据客户需求，为客户制作需要的表单样式。
8.三重防辐射系统：
更换样品时X光管自动切断电压电流；样品仓打开，X光管快门自动闭锁；仪器多层屏蔽舱盖，有效防止X射线外溢。
9.系统可选装RoHS测试方法，有毒有害物质检测方法等几十种应用于不同测试机构的不同测试方法。
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