扫描电镜工作原理
在材料测试技术中，扫描电镜工作原理，材料的显微分析能获得材料的组织结构，揭示材料基本性质和基本规律，是重要的一环。而各种显微分析设备诸如SEM、TEM、AFM、STM等，各位常与材料打交道的金粉一定不会陌生。最近小编发现一些电镜动画，被惊艳到，原来枯燥无味的电镜可以变得这么生动，闲言少叙，下面就和大家一起来分享。
扫描电镜工作原理（扫描电镜的工作原理及使用方法）
扫描电子显微镜（SEM）
扫描电镜成像是利用细聚焦高能电子束在样件表面激发各种物理信号，如二次电子、背散射电子等，通过相应的检测器来检测这些信号，信号的强度与样品表面形貌有一定的对应关系，因此，可将其转换为视频信号来调制显像管的亮度得到样品表面形貌的图像。
SEM工作图
入射电子与样品中原子的价电子发生非弹性散射作用而损失的那部分能量（30～50eV）激发核外电子脱离原子，能量大于材料逸出功的价电子从样品表面逸出成为真空中的自由电子，此即二次电子。
扫描电镜的工作原理及使用方法
材料的显微分析能获得材料的组织结构，揭示材料基本性质和基本规律，在材料测试技术中占重要的一环。对各种显微分析设备诸如SEM、TEM、AFM、STM等，各位材料届的小伙伴一定不会陌生。最近小编发现一些电镜动画，被惊艳到，扫描电镜工作原理，原来枯燥无味的电镜可以变得这么生动，闲言少叙，下面就和大家一起来分享。
扫描电子显微镜（SEM）
扫描电镜成像是利用细聚焦高能电子束在样件表面激发各种物理信号，如二次电子、背散射电子等，通过相应的检测器来检测这些信号，信号的强度与样品表面形貌有一定的对应关系，因此，扫描电镜工作原理，可将其转换为视频信号来调制显像管的亮度得到样品表面形貌的图像。
SEM工作图
入射电子与样品中原子的价电子发生非弹性散射作用而损失的那部分能量（30～50eV）激发核外电子脱离原子，能量大于材料逸出功的价电子从样品表面逸出成为真空中的自由电子，此即二次电子。
扫描电镜工作原理图
场发射扫描电镜（FESEM）是电子显微镜的一种，其原理是利用二次电子或背散射电子成像，对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察，同时利用电子激发出样品表面的特征X射线来对微区的成分进行定性定量分析，是我们材料研究分析中一双亮丽的“眼睛”。
扫描电镜按照电子枪分类可以分为钨(W)灯丝、六硼化镧(LaB6)灯丝、场发射(FieldEmission)三种，场发射扫描电镜相比于钨灯丝、六硼化镧，扫描电镜工作原理，具有电子束斑小、高分辨率、稳定性好等特点。
1、金属、陶瓷、高分子、矿物、半导体、纸张、化工产品的显微形貌观察及材料的晶体结构、相组织分析;
2、各种材料微区化学成分的定性定量检测;
3、粉末、微粒、纳米样品形态观察和粒度测定;
